| 相比漏電指數(shù)與工作電壓的關(guān)系 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：ADI | |
| 文檔大小：177 K | |
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| 文檔介紹：改善相比漏電指數(shù)(CTI)可以使小封裝實(shí)現(xiàn)高工作電壓。 | |
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