| 設計具備單粒子翻轉(SEU) 免疫能力的醫療解決方案 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：chenyy | |
| 文檔大小：758 K | |
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| 文檔介紹：FPGA 器件中的輻射影響分為兩類 ?數據影響(―軟錯誤”) –觸發器、存儲器單元、組合邏輯單元中的單比特位翻轉 –如果能夠校正錯誤，不是嚴重的問題 –如果是非關鍵性數據：請求重新發送 –對于關鍵性數據：使用EDAC/FEC、奇偶校驗冗余來保護 ?配置影響(―固件錯誤”) –FPGA 配置元件中的單比特位翻轉 –非常嚴重的問題 –引起FPGA 故障 –影響數百萬比特位的數據 –可以引發整個系統的故障 ?醫療等地面應用中的兩個重要輻射源 –中子 –阿爾法粒子 概述 | |
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