使用吉時利最新3732型高密度矩陣卡進行低電平接觸電阻(LLCR)針腳插槽測試 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:keithley | |
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文檔介紹:吉時利最新3732型超高密度、高速干簧式繼電器矩陣開關(guān),完美搭配其3700系列數(shù) 據(jù)采集系統(tǒng),充分滿足高密度連接的多樣化需求。 如今的計算機處理器(CPU)比以往的計算機處理器有很大進步。現(xiàn)在的CPU比從前 需要更高的功率,更低的工作電壓以及擁有更多的針腳。同時,它們還能直接插入 CPU插槽,無需焊接。由于拉電流很大,如果CPU和插槽的接觸電阻過大就會產(chǎn)生較 大的壓降和熱量,使CPU無法正常工作。因此,關(guān)鍵要讓接觸電阻值最小。為了達 到這一要求,必須全面測試插槽。測試插槽通常采用低電平接觸電阻(LLCR)測試 的形式。 在LLCR測試中,使用低電平信號測量一組觸點的電阻值。在測試中,向被測觸點組 施加1nA~100mA范圍的電流并測量產(chǎn)生的壓降。由于這些觸點的電阻值很小,所產(chǎn) 生的壓降通常也很小(在微伏范圍內(nèi)),因此需要高質(zhì)量電壓表才能獲取準(zhǔn)確讀 數(shù)。 LLCR測試在CPU插槽上進行:在插槽上插入內(nèi)插板然后測量插槽中各組針腳之間的 電阻值。內(nèi)插板建立了經(jīng)過多個觸點的通路,因此測量的電阻值是各個針腳的接觸 電阻之和。然后,總的接觸電阻值除以通路上的觸點數(shù)量即為接觸電阻平均值。期 望的接觸電阻典型值低于17~20mΩ/觸點。 | |
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