2010年9月——NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA），這是自動化測試行業(yè)首臺基于PXI總線的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。借助全新的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可對前向參數(shù)和反向參數(shù)(T/R)進行全面的矢量分析。此外，該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還提供精密自動校準功能，并且基于靈活的軟件定義架構(gòu)，非常適用于自動化設(shè)計驗證和生產(chǎn)測試。該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀基于PXI模塊化架構(gòu)，只需占據(jù)兩個PXI槽位，使測試工程師可以在有限空間中將矢量網(wǎng)絡(luò)分析整合進測試系統(tǒng)，而無需增加額外成本或使用體積較大的傳統(tǒng)臺式儀器。
　
　　“6 GHz 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀表明了我們在提供射頻解決方案方面的持續(xù)投入，致力于幫助工程師在提高測試精度和吞吐量的同時降低成本、系統(tǒng)體積和復(fù)雜性，” NI 研發(fā)部高級副總裁Phil Hester說。“對于成功地將VNA添加到我們業(yè)已強大的PXI模塊化儀器的射頻系列產(chǎn)品中，我們感到很驕傲。”
　
　　NI PXIe-5630針對自動化測試應(yīng)用進行了設(shè)計優(yōu)化，并提供一些成熟的功能，包括：自動精密校準、雙端口均可進行完整矢量分析、參考面延展附件、以及可用于并行測試的靈活的LabVIEW API。NI PXIe-5630還具有優(yōu)良的性能指標，包括10 MHz到6 GHz的頻率范圍、超過110 dB的動態(tài)范圍、以及低于400 微秒/頻點的掃描速度（可連續(xù)掃描3201個頻點）。此外，由于基于模塊化的PXI平臺，工程師可將多達八個NI PXIe-5630模塊整合在一個PXI機箱中，并以真實并行的方式進行多點射頻測試。
　
　　工程師無需編程便可用附帶的全功能軟面板交互式地控制NI PXIe-5630，或在NI LabVIEW軟件和NI LabWindows™/CVI ANSI C開發(fā)環(huán)境中使用直觀的API通過編程進行控制。兩種API都針對多核處理進行了優(yōu)化，以完成多個RF組件的并行測試。相比通過開關(guān)切換進行串行測試，這種并行測試方式具有明顯的測試吞吐量優(yōu)勢。
　
　　NI PXIe-5630還進一步擴展了用于自動化測試的PXI模塊化儀器系列產(chǎn)品。基于工業(yè)標準的PXI規(guī)范，該款矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可與包括NI在內(nèi)的70多家供應(yīng)商的1500多種PXI儀器集成，滿足幾乎任何測試應(yīng)用需求。
　
　　全新矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀將于2010年10月上市。了解關(guān)于NI PXIe-5630的更多信息，請訪問www.ni.com/vna/zhs。
　
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